常見國(guó)標(biāo)GB/T 2423.3-2016前言介紹

 

 GB／T 2423.3—2006為GB／T 2423（電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)》的第3部分。

本部分等同采用IEC 60068—2—78：2001（環(huán)境試驗(yàn) 第2—78部分：試驗(yàn) 試驗(yàn)Cab；恒定濕熱試驗(yàn)）（英文版）。

本部分刪除了IEC：60068—2—78：2001中的“前言”的內(nèi)容。

本部分代替GB／T 2423.3—1993（電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法）及GB／T 2423.9—2001（電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cb：設(shè)備用恒定濕熱》。主要變動(dòng)如下：

1）本部分將原標(biāo)準(zhǔn)GB／T 2423.3—1993《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法）及GB／T2423.9—20014電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cb：設(shè)備用恒定濕熱這兩項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)合并為一標(biāo)準(zhǔn)，即GB／T 2423.3—2006《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)）；

2）本部分在對(duì)試驗(yàn)箱的要求中明確規(guī)定短期的溫度波動(dòng)要保持在±0.5K范圍內(nèi)以保持所要求的濕度條件：

3）本部分對(duì)試驗(yàn)箱的濕度容差統(tǒng)一規(guī)定為±3％；

4）本部分比原來(lái)的兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)增加了推薦的持續(xù)時(shí)間；

5）本部分增加了附錄A。

本部分的附錄A為資料性附錄。本部分由中國(guó)電器工業(yè)協(xié)會(huì)提出。

本部分由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本部分起草單位：廣州電器科學(xué)研究院。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：GB／T 2423.3—1981、GB／T 2423.3—1993，GB/T 2423.9-1989、GB/T 2423.9-2001。